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PCT高壓加速老化試驗箱

更新時間:2026-01-07

簡要描述:

PCT高壓加速老化試驗箱(Pressure Cooker Test)是一種通過模擬高溫、高濕、高壓環境加速產品老化的工業測試設備,主要用于評估電子元件、半導體封裝等產品的密封性、耐濕性及可靠性?。

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PCT高壓加速老化試驗箱

PCT高壓加速老化試驗箱(Pressure Cooker Test)是一種通過模擬高溫、高濕、高壓環境加速產品老化的工業測試設備,主要用于評估電子元件、半導體封裝等產品的密封性、耐濕性及可靠性?。核心功能與原理

?環境模擬?:通過飽和蒸汽(100%RH)和高壓(0.5~3.5kg/cm2)環境,加速材料吸濕、氧化等失效過程,快速暴露潛在缺陷(如爆米花效應、金屬腐蝕)?。

?控制模式?:支持PCT(飽和蒸汽)和HAST(非飽和蒸汽)雙模式,溫度范圍通常為110℃~132℃,最高可達147℃?。

技術參數

參數范圍/特性

溫度+110℃~+132℃(最高147℃)?

壓力0.5~3.5kg/cm2(安全承壓4kg/cm2)?

濕度100%RH飽和蒸汽?

內箱材質SUS316不銹鋼,防結露設計?

應用領域

?半導體?:檢測封裝抗濕氣能力(如芯片爆米花效應)?。

?汽車電子?:評估零部件在濕熱條件下的耐久性?。

?新材料?:測試膠水、錫膏等材料的密封穩定性?。

安全設計

超壓自動泄壓、超溫斷電保護?。

門禁鎖定系統及手動安全排壓閥?。

注:部分型號支持自定義溫濕度曲線,需根據測試標準


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